Лаборатории

Система подготовки специалистов на кафедре основывается на широком привлечении студентов к научно-исследовательской работе по современной тематике. Её актуальность подтверждается участием сотрудников кафедры, аспирантов и студентов во всероссийских и международных конференциях, публикациями в высокорейтинговых мировых изданиях.

Подготовка научно-инженерных кадров осуществляется на базе специализированых учебно-научных лабораторий «Лазерно-оптических систем», «Оптико-голографических систем» и НОЦ «Фотоника и инфракрасная техника». Лаборатории оснащены современным научно-исследовательским оборудованием лучших мировых производителей.

В лаборатории «Лазерно-оптических систем» представлен широкий спектр лазерных источников излучения УФ, видимого и ИК-диапазонов. Из них наибольший интерес могут представлять перестраиваемые Ar+ и Ar+Kr+ лазеры, диапазон перестройки которых простирается от 454 нм, до 676 нм, а выходная мощность достигает 40 мВт на линию. Существенно, что эти лазеры функционируют с воздушной системой охлаждения, обеспечивая возможность оперативной смены источников излучения в различных экспериментах.

Следует отметить He-Ne лазеры, с нестандартными длинами волн излучения – 612 нм и 543 нм, а также твердотельные лазеры с длинами волн 473 нм и 561 нм, использующими генерацию на второй гармонике. Управляемый полупроводниковый УФ лазер с длиной волны 375 нм, выходной мощностью 8 мВт, имеющий небольшие габариты, делает стенды с его применением удобными в настройке и юстировке.

Для контроля геометрических, энергетических и фазовых параметров лазерного излучения используется целый ряд измерительных приборов, таких как измеритель профиля лазерного пучка фирмы «Ophir», датчик волнового фронта «HASO 32», различные измерители мощности и энергии лазерного излучения.

Лаборатория оснащена спектрофотометром Lambda 950 фирмы «Perkin Elmer», характеристики которого позволяют проводить исследования в спектральном диапазоне от 195 до 3300 нм с разрешением 0,05 нм в диапазоне 195 – 860 нм и 0,2 нм в диапазоне 860 – 3300 нм. Диапазон измерения оптических плотностей – 8 А, при точности до ±0,0006 А.